實(shí)驗(yàn)概述

電子荷質(zhì)比e/m是一個(gè)常用的物理常數(shù)，它的定義是電子的電荷量與其質(zhì)量的比值，經(jīng)現(xiàn)代科學(xué)技術(shù)的測(cè)定電子荷質(zhì)比的標(biāo)準(zhǔn)值是：1.759×10^11C/kg。當(dāng)然測(cè)量電子荷質(zhì)比的方法在物理實(shí)驗(yàn)中有許多種，本實(shí)驗(yàn)儀是以當(dāng)年英國(guó)物理學(xué)家湯姆遜的思路，利用電子束在磁場(chǎng)中運(yùn)動(dòng)軌跡發(fā)生偏轉(zhuǎn)的方法來測(cè)量。電子荷質(zhì)比實(shí)驗(yàn)裝置的中心器件是三維立體的威爾尼氏管，通過它可以生動(dòng)形象地顯示出電子束的運(yùn)行軌跡，當(dāng)將威氏管放于亥姆霍茲線圈產(chǎn)生的磁場(chǎng)中時(shí)，用電壓激發(fā)它的電子槍發(fā)射出電子束，進(jìn)行實(shí)驗(yàn)操作。本實(shí)驗(yàn)涉及的知識(shí)點(diǎn)有電子荷質(zhì)比、亥姆霍茲線圈、電子熱激發(fā)、電子在磁場(chǎng)和電場(chǎng)中運(yùn)動(dòng)、原子受激輻射等，通過實(shí)驗(yàn)不僅可以測(cè)量出電子荷質(zhì)比還能加深對(duì)洛倫茲力的認(rèn)識(shí)。

實(shí)驗(yàn)內(nèi)容

• 測(cè)量電子荷質(zhì)比e/m。

• 改變電子束與磁場(chǎng)的角度，觀察電子束在不同角度下在磁場(chǎng)中的運(yùn)動(dòng)軌跡。

• 改變電場(chǎng)強(qiáng)度，觀察電子束在不同電場(chǎng)下的運(yùn)動(dòng)軌跡。

產(chǎn)品特點(diǎn)

• 湯姆遜管構(gòu)造直觀：主要由電子槍、玻璃泡構(gòu)成。電子槍產(chǎn)生電子束，玻璃泡內(nèi)的稀薄氣體在電子束通過時(shí)顯示其徑跡，能夠直觀的展示帶電粒子在磁場(chǎng)中的運(yùn)動(dòng)情況?。

• 亥姆霍茲線圈：由兩個(gè)直徑為316mm的銅線圈構(gòu)成，其置于基座之上，磁場(chǎng)穩(wěn)定可靠。

• 直觀的運(yùn)動(dòng)軌跡?：通過磁場(chǎng)和電場(chǎng)的作用，直觀地展示電子束的運(yùn)動(dòng)軌跡，這種直觀的展示方式有助于更好地理解電子的受力情況?。

• 豐富的調(diào)節(jié)功能?：具有調(diào)節(jié)電場(chǎng)強(qiáng)度和勵(lì)磁電流的功能，可以根據(jù)需要調(diào)節(jié)電場(chǎng)強(qiáng)度和磁場(chǎng)強(qiáng)度，以適應(yīng)不同的演示目的?。

  
  

  
  

實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)